電容器常見的故障現(xiàn)象
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電容器常見的故障現(xiàn)象主要有擊穿、開路、電參數(shù)退化、電解液泄漏及機(jī)械損壞等。導(dǎo)致這些故障的主要原因如下：
（1）擊穿
介質(zhì)中存在疵點(diǎn)、缺陷、雜質(zhì)或?qū)щ婋x子；介質(zhì)材料老化；電介質(zhì)發(fā)生電化學(xué)擊穿；在高濕度或低氣壓環(huán)境下極間邊緣飛?。辉跈C(jī)械應(yīng)力作用下電介質(zhì)瞬時(shí)短路；金屬離子遷移形成導(dǎo)電溝道或邊緣飛弧放電；介質(zhì)材料內(nèi)部氣隙擊穿造成介質(zhì)電擊穿；介質(zhì)在制造過程中發(fā)生機(jī)械損傷；介質(zhì)材料分子結(jié)構(gòu)改變以及外加電壓高于額定值等。
（2）開路
擊穿引起電極和引線絕緣；電解電容器陽極引出箔被腐蝕斷（或機(jī)械折斷）；引出線與電極接觸點(diǎn)形成氧化層而造成低電平開路；引出線與電極接觸不良或絕緣；電解電容器陽極引出金屬箔因腐蝕而導(dǎo)致開路；工作電解質(zhì)干涸或凍結(jié)；在機(jī)械應(yīng)力作用下電解質(zhì)和電介質(zhì)之間瞬時(shí)開路等。
（3）電參數(shù)退化
潮濕與電介質(zhì)老化與熱分解；電極材料的金屬離子遷移；殘余應(yīng)力存在和變化；表面污染；材料的金屬化電極的自愈效應(yīng)；工作電解質(zhì)揮發(fā)和變稠；電極被電解腐蝕或化學(xué)腐蝕；引線和電極接觸電阻增加；雜質(zhì)和有害離子的影響。
由于實(shí)際應(yīng)用中的電容器是在工作應(yīng)力和環(huán)境應(yīng)力的綜合作用下工作的，因而會(huì)產(chǎn)生一種或幾種失效模式和失效機(jī)理，有時(shí)候某單一種失效模式更會(huì)導(dǎo)致其他失效模式或失效機(jī)理串聯(lián)發(fā)生。例如，溫度應(yīng)力既可以促使表面氧化、加快老化的影響程度和電參數(shù)退化，又會(huì)促使電場(chǎng)強(qiáng)度下降，使介質(zhì)擊穿更早到來。這些應(yīng)力的影響程度都是時(shí)間的函數(shù)。因此，電容器的失效機(jī)理與產(chǎn)品的類型、材料的種類、結(jié)構(gòu)的差異、制造工藝及環(huán)境條件和工作應(yīng)力等諸多因素有密切關(guān)系。
擊穿故障通常非常容易發(fā)現(xiàn)，但遇上有多個(gè)元件并聯(lián)的情況，要確定具體的故障元件卻較為困難。開路故障可通過將相同型號(hào)和容量的電容與被檢測(cè)電容并聯(lián)來判定，觀察電路功能是否恢復(fù)來實(shí)現(xiàn)。電容電參數(shù)變化的檢查卻較為麻煩，一般可按照下面方法進(jìn)行：
首先應(yīng)將電容器的其中一條引線從電路板上燙下來，以避免周圍元件的影響。其次根據(jù)電容器的不同情況用不同的方法進(jìn)行檢查。
1、電解電容器的檢查。將萬用表置于電阻檔，量程要視乎被測(cè)電解電容的容量及耐壓大小而定。測(cè)量容量小、耐壓高的電解電容，量程應(yīng)位于R×10kW檔；測(cè)量容量大、耐壓低的電解電容，量程應(yīng)位于R×1kW檔。觀察充電電流的大小、放電時(shí)間長(zhǎng)短（表針退回的速度）及表針最后指示的阻值。
電解電容器質(zhì)量好壞的鑒別方法如下：
（1）充電電流大，表針上升速度快，放電時(shí)間長(zhǎng)，表針退回速度慢，說明容量足。
（2）充電電流小，表針上升速度慢，放電時(shí)間短，表針退回速度快，說明容量小、質(zhì)量差。
（3）充電電流為零，表針不動(dòng)，說明電解電容器已經(jīng)失效。
（4）放電到最后，表針退回到停止時(shí)指示的阻值大，說明絕緣性能好，漏電少。
（5）放電到最后，表針退回到停止時(shí)指示的阻值小，說明絕緣性能差，漏電嚴(yán)重。
2、容量為1mF以上的電容器檢查?？捎萌f用表電阻檔（R×10kW）同極性多次測(cè)量法來檢查漏電程度及是否擊穿。將萬用表的兩根表筆與被測(cè)電容的兩根引線碰一下，觀察表針是否有輕微的擺動(dòng)。對(duì)容量大的電容，表針擺動(dòng)明顯；對(duì)容量小的電容，表針擺動(dòng)不明顯。緊接著用表筆再次、三次、四次碰電容器的引線（表筆不對(duì)調(diào)），每碰一次都要觀察針是否有輕微的擺動(dòng)。如從第二次起每碰一次表針都擺動(dòng)一下，則說明此電容器有漏電。如接連幾次碰時(shí)表針均不動(dòng)，則說明電容器是好的。如果第一次相碰時(shí)表針就擺到終點(diǎn)，則說明電容器已經(jīng)被擊穿。另外，對(duì)于容量為1mF~20mF的電容器，有的數(shù)字萬用表可以測(cè)量。
3、容量為1mF以下的電容器檢查?？梢允褂脭?shù)字萬用表的電容測(cè)量檔較為準(zhǔn)確地測(cè)得電容器的實(shí)際數(shù)值。若沒有帶電容測(cè)量功能的數(shù)字萬用表，便只能用歐姆檔檢查它是否擊穿短路。用完好的相同容量電容器與被懷疑的電容器并聯(lián)，檢查它是否開路。
4、電容器參數(shù)的精確測(cè)量。單個(gè)電容器容量的精確測(cè)量可使用LCR電橋，耐壓值的測(cè)量可采用晶體管特性測(cè)試儀。
文章來源：深圳新晨陽電子
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