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陶瓷電容的失效分析

2019年05月29日17:09 

電容的應(yīng)用已經(jīng)越來(lái)越廣了,但我們都知道,陶瓷電容是會(huì)損壞的,是會(huì)失效的,導(dǎo)致陶瓷電容失效的原因有很多。


內(nèi)電極之間是陶瓷介質(zhì),陶瓷介質(zhì)中分布著一-些大小不等的微小孔洞,在高溫下電極非常容易擴(kuò)散遷移,擴(kuò)散到陶瓷介質(zhì)中。


在潮濕和雜質(zhì)離子的作用下,這些孔洞成為電極遷移的通道。


從而導(dǎo)致電容器的絕緣電阻下降,漏電流增大,出現(xiàn)電容器擊穿,燒毀失效。

電容


表明失效電容的電極中碳和氧的含量增加了,說(shuō)明金屬電極發(fā)生了氧化并卻有新的含碳的化合物生成。


這會(huì)導(dǎo)致陶瓷電容的損耗角正切值D增加,絕緣電阻增大,電容量漂移間隔著具有半導(dǎo)體性質(zhì)的氧化銀。


使無(wú)機(jī)介質(zhì)電容器的等效串聯(lián)電阻增大,金屬部分損耗增加,電容器的損耗角正切值D顯著上升。

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