壓敏電阻爆裂及失效模式
本文主要介紹了壓敏電阻爆裂及失效模式，本文字數(shù)約930字，閱讀完全文需9分鐘。
壓敏爆裂可能的原因主要如下：
1、選用的允許電壓或尺寸規(guī)格過低，壓敏電阻過電壓損壞；
2、電路中浪涌過大，或浪涌比較頻繁，壓敏電阻在多次浪涌沖擊下疲勞損壞爆裂；
3、壓敏電阻有缺陷，假冒偽劣產(chǎn)品，產(chǎn)品本身有品質(zhì)缺陷。
壓敏電阻的失效模式
第一種劣化，表現(xiàn)在漏電流增大，壓敏電壓顯著下降，直至為零。
第二種炸裂，若過電壓引起的浪涌能量太大，超過了選的壓敏電阻器極限的承受能力，則壓敏電阻器在抑制過電壓時將會發(fā)生陶瓷炸裂現(xiàn)象。
第三種穿孔，若過電壓峰值特別高，導(dǎo)致壓敏電阻器的失效模式絕大部分表現(xiàn)為劣化各穿孔（短路），解決的辦法為在使用壓敏電阻器時，與之串聯(lián)一個合適的斷路器或者保險絲，避免短路引起事故。
