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電容器
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新晨陽為您分析陶瓷電容失效的原因

文章出處:作者:人氣:-發(fā)表時間:2016-08-23 14:07:00
  多層陶瓷電容器本身的內在可靠性十分優(yōu)良,可以長時間穩(wěn)定使用。但如果器件本身存在缺陷或在組裝過程中引入缺陷,則會對其可靠性產(chǎn)生嚴重影響。下面新晨陽為您分析陶瓷電容失效的原因。
 
1.陶瓷介質內空洞 (Voids)
導致空洞產(chǎn)生的主要因素為陶瓷粉料內的有機或無機污染,燒結過程控制不當?shù)?。空洞的產(chǎn)生極易導致漏電,而漏電又導致器件內部局部發(fā)熱,進一步降低陶瓷介質的絕緣性能從而導致漏電增加。該過程循環(huán)發(fā)生,不斷惡化,嚴重時導致多層陶瓷電容器開裂、爆炸,甚至燃燒等嚴重后果。
 
2.燒結裂紋 (firing crack)
燒結裂紋常起源于一端電極,沿垂直方向擴展。國巨代理主要原因與燒結過程中的冷卻速度有關,裂紋和危害與空洞相仿。
 
陶瓷電容
 
3.分層 (delamination)
多層陶瓷電容器的燒結為多層材料堆疊共燒。燒結溫度可以高達1000℃以上。層間結合力不強,燒結過程中內部污染物揮發(fā),燒結工藝控制不當都可能導致分層的發(fā)生。分層和空洞、裂紋的危害相仿,為重要的多層陶瓷電容器內在缺陷。

 

 

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