電子設(shè)備往往都是由若干個(gè)電子元器件構(gòu)成，而在設(shè)備的電路設(shè)計(jì)中，通過(guò)電子元器件的可靠串聯(lián)模型，才能夠?qū)崿F(xiàn)電子設(shè)備和系統(tǒng)功能的正常運(yùn)行。對(duì)于大部分電子元器件的生產(chǎn)來(lái)說(shuō)，其使用可靠性是基礎(chǔ)和核心，任何一個(gè)小的電子元器件的功能喪失，都會(huì)導(dǎo)致整個(gè)系統(tǒng)功能的喪失。因此，為了保證系統(tǒng)功能的有效發(fā)揮，必須要加強(qiáng)設(shè)計(jì)人員對(duì)電子元器件使用可靠性的認(rèn)識(shí)，并且進(jìn)行科學(xué)、合理的選擇與使用，才能夠保證電子元器件使用可靠性的不斷提升，以此促進(jìn)整機(jī)的穩(wěn)定運(yùn)行。

　　1.1 缺乏科學(xué)的設(shè)計(jì)

　　通過(guò)對(duì)以往電子元器件產(chǎn)品的系統(tǒng)分析可以看出，電子元器件的失效，除了其本身的質(zhì)量問(wèn)題，有很大一部分原因是由于電子元器件的設(shè)計(jì)不合理所導(dǎo)致的。比如某雷達(dá)產(chǎn)品，其在使用的過(guò)程中存在著晶振振蕩不穩(wěn)定的現(xiàn)象，通常會(huì)認(rèn)為是由于集成電路所引起的，在更換集成電路之后現(xiàn)象仍然存在，通過(guò)進(jìn)一步的分析發(fā)現(xiàn)，是電路設(shè)計(jì)不合理所引起的，因此對(duì)電力設(shè)計(jì)進(jìn)行了更改，故障便徹底消除。

　　1.2 人為因素的干擾

　　根據(jù)相關(guān)的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)，在導(dǎo)致電子元器件失效的各種原因中，人為因素占據(jù)著很大的比例，在產(chǎn)品的生產(chǎn)和使用的過(guò)程中，庫(kù)存、搬運(yùn)、安裝調(diào)試、試驗(yàn)等環(huán)節(jié)都可能會(huì)由于人的因素而導(dǎo)致電子元器件的失效。比如在電子元器件的裝配過(guò)程中，將單元板進(jìn)行組成之后，對(duì)整個(gè)系統(tǒng)進(jìn)行運(yùn)行調(diào)整，這時(shí)整機(jī)功能正常，但是將電子元器件與電路印制板進(jìn)行焊接并且裝機(jī)之后，設(shè)備卻無(wú)法正常運(yùn)轉(zhuǎn)，通過(guò)專家分析，是由于焊接過(guò)程中，沒(méi)有使電烙鐵達(dá)到理想的接地狀態(tài)，不滿足電路焊接標(biāo)準(zhǔn)要求，而導(dǎo)致設(shè)備整機(jī)無(wú)法運(yùn)行。

　　1.3 因他電應(yīng)力

　　近年來(lái)，由于其他電應(yīng)力而引起的電子元器件失效比例逐年的提升，其中較為典型的因素有接地不良、反沖電動(dòng)勢(shì)、二次擊穿、靜電等等。如很多單位的供電系統(tǒng)都是接“0”保護(hù)，即“零”線與“地”線接在一起，這是符合供電系統(tǒng)的使用標(biāo)準(zhǔn)的。然而，對(duì)于微電子器件、CMOS器件，在其電路設(shè)計(jì)、調(diào)試和生產(chǎn)過(guò)程中，則必須采用接“地”保護(hù)，即“零”線與“地”線必須要嚴(yán)格分開(kāi)。由于這些問(wèn)題沒(méi)有受到充分的重視，而導(dǎo)致了電子元器件的失效。

　　2 提高電子元器件使用可靠性的措施分析

　　1）電子元器件的正確選擇與使用。由于不同的生產(chǎn)廠家在電子元器件的命名方法上存在著一定的差異，通常在元器件上所使用的字母標(biāo)記也有著不同的含義，其反映著不同的型號(hào)和規(guī)格，同時(shí)也反映了元器件使用的環(huán)境和質(zhì)量等級(jí)等信息。

　　因此，在進(jìn)行元器件的選擇時(shí)，必須要對(duì)其字母含義進(jìn)行詳細(xì)的了解以及確定，因?yàn)橛械墓?yīng)商利用采購(gòu)人員不清楚元器件上字母的含義，而以次充好，或者是以民用品充當(dāng)軍用品以較高的價(jià)格出售。同時(shí)，應(yīng)當(dāng)對(duì)電子元器件的質(zhì)量等級(jí)和命名標(biāo)準(zhǔn)等內(nèi)容有正確的認(rèn)識(shí)，選擇具有品質(zhì)認(rèn)定的標(biāo)志，具有成熟生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)的廠家所生產(chǎn)的產(chǎn)品。另外，對(duì)于元器件的使用環(huán)境和使用條件等參數(shù)要求也要作為其選擇的依據(jù)，這樣才能夠選擇合理的型號(hào)與規(guī)格。

　　2） 對(duì)于元器件的工作負(fù)荷要進(jìn)行科學(xué)的控制。實(shí)踐證明，經(jīng)常處于滿1 電子元器件的失效原因分析負(fù)荷工作狀態(tài)的元器件，其使用壽命也大大的降低，因此為了保證電子元器件的使用功能正常發(fā)揮，對(duì)于元器件的施工要適當(dāng)?shù)倪M(jìn)行降額和降溫。同時(shí)，通過(guò)冗余設(shè)計(jì)、裕度設(shè)計(jì)等方法來(lái)改善元器件的使用可靠性，降低其失效率，以此來(lái)提高整機(jī)的運(yùn)行可靠性。

　　3）在電路的選擇上，應(yīng)當(dāng)在保證不影響電路功能的基礎(chǔ)上，將傳統(tǒng)的分立器件用集成電路來(lái)代替。對(duì)于特殊的電路，或者是電子元器件成本較高的電路，應(yīng)當(dāng)根據(jù)使用的需要而做好相應(yīng)的防護(hù)措施，功率較大的元器件，則要添加就有散熱器功能的部件，保證其正常使用。

　　4） 在安裝工藝方法的選擇方面， 應(yīng)當(dāng)確保其科學(xué)和有效，比如印制板的機(jī)械配合孔、結(jié)構(gòu)尺寸的合理性等等，這些都是影響元器件使用可靠性的因素，避免由于結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)不合理和安裝工藝不科學(xué)而造成元器件內(nèi)應(yīng)力的存在，這會(huì)大大降低元器件的使用效率。

　　5）元器件的檢測(cè)與篩選。檢測(cè)與篩選是元器件使用過(guò)程中必不可少的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，影響元器件使用可靠性的因素有很多，即使是設(shè)計(jì)合理、安裝工藝科學(xué)等因素都保證的基礎(chǔ)上，仍然會(huì)由于元器件自身材料的缺陷、輔助材料的質(zhì)量以及設(shè)備故障等因素而導(dǎo)致元器件的使用存在缺陷，而這些缺陷通過(guò)檢測(cè)與篩選是能夠有效的清除。在電路的測(cè)試功能中，包括直流參數(shù)測(cè)試和交流參數(shù)測(cè)試以及功能測(cè)試等，喪失基本邏輯功能的元器件可以通過(guò)功能測(cè)試來(lái)完成，而工藝生產(chǎn)中存在的缺陷則可以通過(guò)直流參數(shù)測(cè)試來(lái)檢測(cè)，交流參數(shù)測(cè)試一般可以用來(lái)對(duì)期間的頻率特性和開(kāi)關(guān)特性進(jìn)行檢測(cè)。

　　6）加強(qiáng)對(duì)電子元器件使用可靠性的研究工作，不斷的完善元器件使用規(guī)則和制度，并且持續(xù)提升設(shè)計(jì)人員的設(shè)計(jì)水平。比如可根據(jù)單位實(shí)際情況來(lái)編寫(xiě)《CMOS電路使用規(guī)則》、《集成電路運(yùn)放電路使用規(guī)則》等文件，從而使設(shè)計(jì)、使用人員有章可循，將大大減少人為因素造成的元器件失效。

7）加強(qiáng)對(duì)元器件產(chǎn)品質(zhì)量的監(jiān)督與管理，杜絕使用不合格的元器件產(chǎn)品。相關(guān)的工作部門要對(duì)元器件的質(zhì)量做好監(jiān)督與管理，并且及時(shí)的反饋，定期將元器件的使用情況形成報(bào)告并且上交給質(zhì)量管理部門。在對(duì)整機(jī)設(shè)備進(jìn)行維護(hù)時(shí)，對(duì)其故障分析應(yīng)當(dāng)深入到元器件的等級(jí)，而不僅僅是電路板，這樣才能夠根據(jù)不同批次的元器件產(chǎn)品的故障和失效率有一個(gè)詳細(xì)的記錄和分析，以此來(lái)判斷該批量元器件的可靠性，為生產(chǎn)和使用提供更具有針對(duì)性的修改建議。