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首頁電子器件常見問題 薄膜電阻常見的失效形式

薄膜電阻常見的失效形式

2020年06月30日17:01 

  薄膜電阻常見的失效形式
  一、失效機(jī)理剖析
  電阻器失效機(jī)理是多方面的,工作條件或環(huán)境條件下所發(fā)作的各種理化過程是引起電阻器老化的緣由。
  1、氧化
  氧化是長期起作用的要素(與吸附不同),氧化過程是由電阻體外表開端,逐漸向內(nèi)部深化。除了貴金屬與合金薄膜電阻外,其他材料的電阻體均會遭到空氣中氧的影響。氧化的結(jié)果是阻值升高。電阻膜層愈薄,氧化影響就更明顯。避免氧化的基本措施是密封(金屬、陶瓷、玻璃等無機(jī)資料)。采用有機(jī)資料(塑料、樹脂等)涂覆和灌封,不能完整避免維護(hù)層透濕或透氣,雖能起到延緩氧化或吸附氣體的作用,但也會帶來與有機(jī)維護(hù)層有關(guān)的些新的老化要素。

薄膜電阻
  2、有機(jī)維護(hù)層的影響
  有機(jī)維護(hù)層構(gòu)成過程中,放出縮聚作用的揮發(fā)物或溶劑的蒸氣。熱處置過程使局部揮發(fā)物擴(kuò)散到電阻體中,惹起阻值上升。此過程雖可持續(xù)1~2年,但是顯著影響阻值的時間約為2~8個月,為了保證廢品的阻值穩(wěn)定性,把產(chǎn)品在庫房中放置一段時間再出廠是比擬適合的。
  3、機(jī)械損傷
  電阻的牢靠很大水平上取決于電阻器的機(jī)械性能。電阻體、引線帽和引出線等均應(yīng)具有足夠的機(jī)械強(qiáng)度,基體缺陷、引線帽損壞或引線斷裂均可招致電阻器失效。
  4、銀電極硫化腐蝕招致開路
  脫焊拆卸后的電阻器外觀與X-ray透視發(fā)現(xiàn)電極處斷開。

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