壓敏電阻的失效狀態(tài)及劣化
壓敏電阻阻值與兩端施加的電壓大小有關，當加到壓敏電阻器上的電壓在其標稱值以內時，電阻器的阻值呈現無窮大狀態(tài)，幾乎無電流通過。
當壓敏電阻器兩端的電壓略大于標稱電壓時，壓敏電阻迅速擊穿導通，其阻值很快下降，使電阻器處于導通狀態(tài)。
當電壓減小至標稱電壓以下時，其阻值又開始增加，壓敏電阻又恢復為高阻狀態(tài)。
壓敏電阻器兩端的電壓超過其最大限制電壓時，它將完全擊穿損壞，無法自行恢復。
劣化實物表現為使用萬用表測試壓敏電阻時出現漏電流增大情況，壓敏電阻電壓顯著下降，直至為零。
炸裂壓敏電阻器在抑制過電壓時將會發(fā)生陶瓷炸裂現象，非常明顯。
穿孔電阻器的陶瓷外層將會瞬間發(fā)生電擊穿，出現穿孔狀態(tài)。
在壓敏電阻器的應用過程中，當其出現性能劣化時，常見的劣化模式有兩種：
壓敏電阻暫態(tài)過電壓破壞：指的是短時間內出現較強的暫態(tài)過電壓使電阻體穿孔，導致更大的電流而高熱起火，整個過程在較短時間內發(fā)生。
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