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首頁電子器件常見問題 壓敏電阻失效模式的三種方式

壓敏電阻失效模式的三種方式

2023年02月17日17:53 

第一種老化表現(xiàn)為漏電流增大,壓敏電壓明顯下降,直至為零。老化失效是指電阻體的低電阻線性化逐漸加劇,漏電流惡性增加,集中流入弱點(diǎn),弱點(diǎn)材料融化,形成約1k短路孔后,電源繼續(xù)推動大電流進(jìn)入短路點(diǎn),形成高熱和火災(zāi)。臨時過電壓損傷是指強(qiáng)臨時過電壓穿孔電阻體,導(dǎo)致更大的高熱電流。整個過程在短時間內(nèi)發(fā)生,電阻體上設(shè)置的熱熔接頭沒有時間熔斷。

第一種老化表現(xiàn)為漏電流增大,壓敏電壓明顯下降,直至為零。

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第二種爆裂,如果過電壓引起的浪涌能量過大,超過所選壓敏電阻極限的承載能力,壓敏電阻在抑制過電壓時會發(fā)生陶瓷爆裂。

第三個穿孔,如果過電壓峰值特別高,大多數(shù)壓敏電阻的故障模式會惡化每個穿孔(短路)。解決方案是在使用壓敏電阻時串聯(lián)適當(dāng)?shù)臄嗦菲骱捅kU絲,以避免短路事故。



第一種老化表現(xiàn)為漏電流增大,壓敏電壓明顯下降,直至為零。老化失效是指電阻體的低電阻線性化逐漸加劇,漏電流惡性增加,集中流入弱點(diǎn),弱點(diǎn)材料融化,形成約1k短路孔后,電源繼續(xù)推動大電流進(jìn)入短路點(diǎn),形成高熱和火災(zāi)。臨時過電壓損傷是指強(qiáng)臨時過電壓穿孔電阻體,導(dǎo)致更大的高熱電流。整個過程在短時間內(nèi)發(fā)生,電阻體上設(shè)置的熱熔接頭沒有時間熔斷。

第一種老化表現(xiàn)為漏電流增大,壓敏電壓明顯下降,直至為零。

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第二種爆裂,如果過電壓引起的浪涌能量過大,超過所選壓敏電阻極限的承載能力,壓敏電阻在抑制過電壓時會發(fā)生陶瓷爆裂。

第三個穿孔,如果過電壓峰值特別高,大多數(shù)壓敏電阻的故障模式會惡化每個穿孔(短路)。解決方案是在使用壓敏電阻時串聯(lián)適當(dāng)?shù)臄嗦菲骱捅kU絲,以避免短路事故。

綜上所述,當(dāng)壓敏電阻吸收突波時,當(dāng)崩潰電壓降低時,其工作電流過大,直至燒毀;爆裂(包裝層開裂,導(dǎo)線與陶瓷體分離)時,斷路,使保護(hù)失效;當(dāng)這個短路發(fā)生時,它會被燒毀。當(dāng)壓敏電阻的使用環(huán)境和濕度過高時,工作電流過大,直至燒壞或短路。當(dāng)壓敏電阻的使用電壓超過額定工作電壓時,會惡化(降低崩潰電壓),使工作電流過大,直到燒壞或短路。

對于壓敏電阻火災(zāi)燃燒的故障現(xiàn)象,一般可分為老化故障和臨時過電壓損傷。

老化失效是指電阻體的低電阻線性化逐漸加劇,漏電流惡性增加,集中流入弱點(diǎn),弱點(diǎn)材料熔化,形成約1k短路孔后,電源繼續(xù)推動大電流進(jìn)入短路點(diǎn),形成高熱和火災(zāi)。臨時過電壓損傷是指強(qiáng)臨時過電壓穿孔電阻體,導(dǎo)致更大的電流高熱火災(zāi)。整個過程發(fā)生在較短的時間內(nèi),因此電阻體上設(shè)置的熱熔接頭太晚了。

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