壓敏電阻失效后的表現(xiàn)情況

壓敏電阻失效后的表現(xiàn)情況來看，可分為三種常見的失效狀態(tài)：劣化、炸裂和穿孔：

劣化：實物表現(xiàn)為使用萬用表測試壓敏電阻時出現(xiàn)漏電流增大情況，壓敏電壓顯著下降直至為零。

炸裂：壓敏電阻器在抑制過電壓時會發(fā)生陶瓷炸裂現(xiàn)象，十分明顯。

穿孔：壓敏電阻器陶瓷外層將會瞬間發(fā)生電擊穿，即為穿孔狀態(tài)。

氧化鋅壓敏電阻在我們生活中是一種十分常見的電子元件，在消費電子以及家用產(chǎn)品、工業(yè)自動化控制領域常常發(fā)揮著重要的保護作用。

但是如果過電壓在電路系統(tǒng)中頻繁出現(xiàn)，那么壓敏電阻就會頻繁動作來抑制過電壓增幅和吸收釋放浪涌能量，這勢必會導致壓敏電阻器的性能劣化。

在使用壓敏電阻的過程中，常見的劣化模式有兩種：

開路模式：開路模式主要發(fā)生在MOV流過遠遠超出自身承受的浪涌電流時，通常表現(xiàn)為氧化鋅壓敏電阻本體炸裂，但這種模式不會引起燃燒現(xiàn)象。

短路模式：短路模式大體上可分為老化失效和暫態(tài)過電壓破壞兩種類型。