壓敏電阻也有其局限，若是過電壓在電路系統(tǒng)中頻繁顯現(xiàn),則壓敏電阻器就會頻繁行徑以抑制過電壓幅值和吸收釋放電涌能量,這勢必會招致壓敏電阻器的機(jī)能劣化。
按照壓敏電阻器失效后的表現(xiàn)情況來看，可以分成幾種常見的失效狀態(tài)：劣化：實物表現(xiàn)為使用萬用表測試壓敏電阻時出現(xiàn)漏電流增大情況，壓敏電壓顯著下降，直至為零。
炸裂：壓敏電阻器在抑制過電壓時將會發(fā)生陶瓷炸裂現(xiàn)象，非常明顯。
穿孔：電阻器的陶瓷外層將會瞬間發(fā)生電擊穿，出現(xiàn)穿孔狀態(tài)。
在壓敏電阻的應(yīng)用過程中，當(dāng)其出現(xiàn)性能劣化時，常見的劣化模式有兩種：
第一種是開路模式：開路模式主要發(fā)生在MOV流過遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出自身承受的浪涌電流時，通常表現(xiàn)為壓敏電阻本體炸裂，但這種模式不會引起燃燒現(xiàn)象。
第二種是短路模式：短路模式大體上可分為老化失效和暫態(tài)過電壓破壞兩種類型。
老化失效：電阻體的低阻線性逐步加劇，此時漏電流將會惡性增加且集中注入薄弱點(diǎn)，導(dǎo)致薄弱點(diǎn)材料融化，形成一千歐左右的短路孔后。
電源繼續(xù)推動一個較大的電流灌入短路點(diǎn)，形成高熱而起火，若壓敏電阻存在著制造缺陷，易發(fā)生早期失效，強(qiáng)度不大的電沖擊的多次作用也會加速老化過程，使老化失效提早出現(xiàn)。
