壓敏電阻燒壞原因老化失效，表現(xiàn)為漏電流增大，壓敏電壓顯著下降，直至為零；
老化失效是指電阻體的低阻線性化逐步加劇，漏電流惡性增加且集中流入薄弱點(diǎn)，薄弱點(diǎn)材料融化，形成1kΩ左右的短路孔后。
電源繼續(xù)推動(dòng)一個(gè)較大的電流灌入短路點(diǎn)，形成高熱而起火，這種事故通常可以通過一個(gè)與壓敏電阻串聯(lián)的熱熔接點(diǎn)來避免。
而暫態(tài)過電壓破壞是指較強(qiáng)的暫態(tài)過電壓使電阻體穿孔，導(dǎo)致更大的電流而高熱起火。
整個(gè)過程在較短時(shí)間內(nèi)發(fā)生，以至電阻體上設(shè)置的熱熔接點(diǎn)來不及熔斷。
壓敏電阻的使用安全性一直是一個(gè)需要重視的問題因壓敏電阻廣泛地應(yīng)用在家用電器及其它電子產(chǎn)品中
壓敏電阻起過電壓保護(hù)、防雷、抑制浪涌電流消噪、保護(hù)半導(dǎo)體元器件等作用建議選用優(yōu)質(zhì)的壓敏電阻器。
