壓敏電阻的老化失效問題，這一問題主要指的是電阻體的低阻線性逐步加劇，此時(shí)漏電流將會惡性增加且集中注入薄弱點(diǎn)。
導(dǎo)致薄弱點(diǎn)材料融化，形成一千歐左右的短路孔后，電源繼續(xù)推動一個(gè)較大的電流灌入短路點(diǎn)，形成高熱而起火。
研究結(jié)果表明，若壓敏電阻存在著制造缺陷，易發(fā)生早期失效，強(qiáng)度不大的電沖擊的多次作用也會加速老化過程。
使老化失效提早出現(xiàn)，而壓敏電阻器出現(xiàn)暫態(tài)過電壓破壞則是一個(gè)短時(shí)間內(nèi)造成器件損壞的情況。
所謂的暫態(tài)過電壓破壞，指的是短時(shí)間內(nèi)出現(xiàn)較強(qiáng)的暫態(tài)過電壓使電阻體穿孔，導(dǎo)致更大的電流而高熱起火，整個(gè)過程在較短時(shí)間內(nèi)發(fā)生。
