在以往的應(yīng)用中，跨接在電源線上的壓敏電阻出現(xiàn)過(guò)起火燃燒，危機(jī)臨近其它元器件的事故。
對(duì)此，制造者和使用者共同進(jìn)行了大量研究和分析工作，采取了相應(yīng)的對(duì)策，極大地降低了這類(lèi)事故的概率，但尚未杜絕。
因此，壓敏電阻的使用安全性仍是個(gè)值得重視、需要繼續(xù)研究解決的課題。
壓敏電阻起火燃燒的表觀現(xiàn)象，大體上可分為老化失效和暫態(tài)過(guò)電壓破壞兩種類(lèi)型。
老化失效，這是指電阻體的低阻線性化逐步加劇，漏電流惡性增加且集中流入薄弱點(diǎn)，薄弱點(diǎn)材料融化，形成1kΩ左右的短路孔。
電源繼續(xù)推動(dòng)一個(gè)較大的電流灌入短路點(diǎn)，形成高熱而起火。
這種事故通?？梢酝ㄟ^(guò)一個(gè)與壓敏電阻串聯(lián)的熱熔接點(diǎn)來(lái)避免。
熱熔接點(diǎn)應(yīng)與電阻體有良好的熱耦合，當(dāng)最大沖擊電流流過(guò)時(shí)不會(huì)斷開(kāi)，但當(dāng)溫度超過(guò)電阻體上限工作溫度時(shí)即斷開(kāi)。
研究結(jié)果表明，若壓敏電阻存在著制造缺陷，易發(fā)生早期失效，強(qiáng)度不大的電沖擊的多次作用，也會(huì)加速老化過(guò)程，使老化失效提早出現(xiàn)。
