片式多層陶瓷電容器失效是怎么一回事呢？片式多層陶瓷電容器失效有哪些因素呢？按照失效，我們分為內(nèi)部因素和外部因素，如果片式多層陶瓷電容器內(nèi)部或者外部存在某種缺陷，這都會直接影響到片式多層陶瓷電容器產(chǎn)品的電性能以及其可靠性，給產(chǎn)品質(zhì)量帶來隱患。
我們將內(nèi)部因素分為這3種：空洞、裂紋、分層。
首先我們說說陶瓷介質(zhì)內(nèi)的空洞，陶瓷電容介質(zhì)空洞是怎么一回事呢？
1、陶瓷電容介質(zhì)空洞
導(dǎo)致陶瓷電容空洞的主要原因是因為陶瓷粉料內(nèi)的有機或者無機的污染，燒結(jié)過程中火候控制不當(dāng)，空洞的產(chǎn)生會導(dǎo)致漏電，而漏電又導(dǎo)致器件內(nèi)部發(fā)熱，進一步降低陶瓷介質(zhì)的結(jié)緣性能從而導(dǎo)致漏電增加。該過程循環(huán)發(fā)生，不斷惡化，嚴(yán)重時導(dǎo)致多層陶瓷電容開裂，爆炸，甚至燃燒等嚴(yán)重后果。
2、燒結(jié)裂紋
燒結(jié)裂紋常起源于一端電極，沿垂直方向擴展，主要原因與燒結(jié)過程中的冷卻速度有關(guān)裂紋和危害與空洞相仿。
3、分層
多層陶瓷電容器的燒結(jié)為多層材料堆疊共燒。燒結(jié)溫度可以高達1000°C以上。層間結(jié)合力不強，燒結(jié)的過程中內(nèi)部污染物揮發(fā)，燒結(jié)工藝控制不當(dāng)都有可能導(dǎo)致分層的發(fā)生。分層和空間、裂紋的危害相仿，為重要的多層陶瓷電容器內(nèi)在缺陷。
檢測方法：
