測(cè)試電感性能的有效方法就是將被測(cè)試電感放置在終開關(guān)電源電路上，然后對(duì)此電路的效率進(jìn)行測(cè)量。
但是，這種測(cè)試方法需要有終電路，不易采用。
現(xiàn)在，有一種相對(duì)簡(jiǎn)單的測(cè)試方法，可以在設(shè)計(jì)開關(guān)電源前對(duì)電感的磁芯損耗進(jìn)行測(cè)試。
首先，將磁芯串連放置在低損耗電容介質(zhì)上（比如鍍銀云母）。
在這個(gè)測(cè)試電路中，諧振電容為2000pF，被測(cè)電感大概為2.5mH～2.8mH，測(cè)試頻率為1kHz。
其中，磁性材料的滲透率是一個(gè)與頻率有關(guān)的非線性函數(shù)，在更高的頻點(diǎn)上，測(cè)試結(jié)果有可能不同。
然后，用一系列共振模驅(qū)動(dòng)其中介質(zhì)的電容值需要與被測(cè)電感的開關(guān)頻率一致。
后采用網(wǎng)絡(luò)分析儀來完成整個(gè)測(cè)試過程。
在諧振點(diǎn)，低損耗的磁芯可以看成L-C共振回路。
