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首頁行業(yè)動態(tài) 關(guān)于壓敏電阻的失效模式

關(guān)于壓敏電阻的失效模式

2018年06月11日17:34 

氧化鋅壓敏電阻在我們生活中是一種十分常見的電子元件,在消費電子以及家用產(chǎn)品、工業(yè)自動化控制領(lǐng)域常常發(fā)揮著重要的保護作用。


因其非常出色的非線性伏安特性,氧化鋅壓敏電阻的保護電路功能非常優(yōu)秀。


但是如果過電壓在電路系統(tǒng)中頻繁出現(xiàn),那么壓敏電阻就會頻繁動作來抑制過電壓增幅和吸收釋放浪涌能量,這勢必會導(dǎo)致壓敏電阻器的性能劣化


從壓敏電阻失效后的表現(xiàn)情況來看,可分為三種常見的失效狀態(tài):劣化、炸裂和穿孔:

壓敏電阻


劣化:實物表現(xiàn)為使用萬用表測試壓敏電阻時出現(xiàn)漏電流增大情況,壓敏電壓顯著下降直至為零。


炸裂:壓敏電阻在抑制過電壓時會發(fā)生陶瓷炸裂現(xiàn)象,十分明顯。


穿孔:壓敏電阻陶瓷外層將會瞬間發(fā)生電擊穿,即為穿孔狀態(tài)。


以上便是壓敏電阻常見的失效模式,若您還需了解更多關(guān)于壓敏電阻元器件的相關(guān)知識,可與我們深圳市新晨陽電子有限公司的專業(yè)技術(shù)人員進行聯(lián)系。

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