多層陶瓷介質(zhì)電容器失效模式
多層陶瓷介質(zhì)電容器有許多失效模式和失效機制。根據(jù)電氣參數(shù)的性能，故障模式可分為三種類型，即開路、短路和電參數(shù)漂移。常見的是電學(xué)參數(shù)的漂移，包括電容的變化、損耗的變化和絕緣電阻的變化。在這三個參數(shù)中，敏感的電參數(shù)是損耗值和絕緣電阻值。只要發(fā)生故障，損耗值或絕緣電阻值就會不同程度地漂移。因此，研究其損耗值和絕緣電阻值對判斷多層陶瓷介質(zhì)電容器的失效狀態(tài)具有重要意義。
短路的失效模式比較常見，這通常表明兩端電極之間的電阻值明顯下降到歐姆或毫歐姆的數(shù)量級，而且這種失效模式大多與過電有關(guān)。開路失效模式比較少見，主要有兩種情況，一是嚴(yán)重過電后，內(nèi)部電極或端電極與內(nèi)電極之間燒毀形成開路；二是某些應(yīng)力導(dǎo)致端電極與內(nèi)電極之間產(chǎn)生裂紋和裂紋，導(dǎo)致電極間電連接不良形成開路，這主要與電容本身的質(zhì)量有關(guān)。
