薄膜電容的頻率特性與電解電容
任何電容器在電場力作用下都要消耗的量，通常我們把電容器在電場力作用下單位時間內(nèi)因發(fā)熱而消耗的量叫做電容器的損耗，用有功功率表示。然而有功功率不能說明電容器損耗特性方面的質(zhì)量情況，于是我們用損耗角正切值來確實(shí)的表示電容器的損耗特性。高頻損耗是薄膜電容器的一種重要的指標(biāo)，它直接影響整機(jī)的可靠性。當(dāng)前，許多電子儀器設(shè)備使用開關(guān)頻率都較高，大約10KHZ左右。這就是要求產(chǎn)品在高頻性能好，但對于電解電容來說很難實(shí)現(xiàn)。
通過實(shí)驗(yàn)分別測量了薄膜電容器和電解電容器在溫室下電容量隨頻率的變化值。電解電容的容量隨著頻率增加逐漸減少，而薄膜電容器則基本不變。同時測量溫室兩種電容器的介質(zhì)損耗角正切值隨頻率的變化值，得出的結(jié)論是，隨著頻率的增加電解電容器的損耗急劇加大，但薄膜電容器的容量僅有微小變化。在比較的過程中可以看出，薄膜電容器的工作頻率范圍寬且高頻率損耗低，具有良好的頻率特性。
電解電容的容量隨著頻率增加逐漸減少，而薄膜電容器則基本不變。同時測量溫室兩種電容器的介質(zhì)損耗角正切值隨頻率的變化值，得出的結(jié)論是，隨著頻率的增加電解電容器的損耗急劇加大，但薄膜電容器的容量僅有微小變化。
